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試題詳解

試卷：113年 - 電子元件拆銲學科300題 1-50#123532 | 科目：電子元件拆銲

試卷資訊

試卷名稱：113年 - 電子元件拆銲學科300題 1-50#123532

年份：113年

科目：電子元件拆銲

42 下列哪一種儀器可以用來測量邏輯狀態的變化？
(A) 計數器
(B) 訊號產生器
(C) Ｑ表
(D) 邏輯探棒。
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詳解 (共 1 筆)

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未解鎖
題目解析 本題的目的是測試對於各種電子...
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