試題詳解

試卷：106年 - 106 在校生(工業類)丙級專案檢定學科：04200測量#84453 | 科目：技檢◆測量-丙級

試卷資訊

試卷名稱：106年 - 106 在校生(工業類)丙級專案檢定學科：04200測量#84453

年份：106年

科目：技檢◆測量-丙級

60. 大比例尺之細部測量常用之方法為
(A)光線法
(B)縱橫線法
(C)半導線法
(D)交會法。

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