題組內容

四、簡要回答下列問題：

⑴掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopes, SPM）主要有掃描隧穿式顯微鏡 （ Scanning tunneling microscope, STM ）及原子力顯微鏡（ Atomic force microscope, AFM）兩種，兩者間有何不同？其分別之優缺點為何？（15 分）