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申論題

試卷：101年 - 101年關務人員、101年移民行政人員、101年國軍上校以上軍官轉任考三等關務特考_化學工程#31495
科目：儀器分析
年份：101年
排序：0

申論題資訊

試卷：101年 - 101年關務人員、101年移民行政人員、101年國軍上校以上軍官轉任考三等關務特考_化學工程#31495
科目：儀器分析
年份：101年
排序：0

題組內容

四、簡要回答下列問題：

申論題內容

⑴掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopes, SPM）主要有掃描隧穿式顯微鏡 （ Scanning tunneling microscope, STM ）及原子力顯微鏡（ Atomic force microscope, AFM）兩種，兩者間有何不同？其分別之優缺點為何？（15 分）