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申論題資訊

試卷:112年 - 112 地方政府特種考試_三等_化學工程:儀器分析#118384
科目:儀器分析
年份:112年
排序:6

題組內容

三、為了要校正測量槽(measurement cells)的內部光學路徑或要計算透明薄 膜(film)的厚度,其折射率為 n(除非這些是反射式的) ,我們採用干涉測量法,其在於記錄空的測量槽(或薄膜)於波數(657fdc64d5881.jpg)在657fdc703e4e8.jpg657fdc773d4f7.jpg間的穿透度(transmittance)。所得到的圖呈現波線(參見下圖)。
657fdc874b402.jpg

申論題內容

(一)試推導方程式,以計算問題中(測量槽或薄膜)的路徑厚度657fdca468da9.jpg。 (15 分)