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102年 - 102年外交領事及外交行政人員、102年民航人員、102年法務部調查局調查人員、102年國家安全局國家安全情報人員、102年經濟部專利商標審查人員考調查人員三等_化學鑑識組#33146
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申論題
試卷:102年 - 102年外交領事及外交行政人員、102年民航人員、102年法務部調查局調查人員、102年國家安全局國家安全情報人員、102年經濟部專利商標審查人員考調查人員三等_化學鑑識組#33146
科目:儀器分析
年份:102年
排序:0
申論題資訊
試卷:
102年 - 102年外交領事及外交行政人員、102年民航人員、102年法務部調查局調查人員、102年國家安全局國家安全情報人員、102年經濟部專利商標審查人員考調查人員三等_化學鑑識組#33146
科目:
儀器分析
年份:
102年
排序:
0
題組內容
三、X 射線螢光光譜法(XFS)與 X 射線光電子光譜法(XPS)均可用來定性分析材料 表面的元素組成。
申論題內容
⑵實際應用於元素分析上,請說明 XPS 具有一項 XFS 欠缺的優點。(5 分)