阿摩線上測驗
登入
首頁
>
半導體製程
>
102年 - 102 專利商標審查特種考試_三等_電子工程:半導體製程#44432
> 申論題
申論題
試卷:102年 - 102 專利商標審查特種考試_三等_電子工程:半導體製程#44432
科目:半導體製程
年份:102年
排序:0
申論題資訊
試卷:
102年 - 102 專利商標審查特種考試_三等_電子工程:半導體製程#44432
科目:
半導體製程
年份:
102年
排序:
0
題組內容
二、
申論題內容
⑶對於 PECVD 製程中,以矽烷作為沉積氧 化矽之氣體源,當增加矽烷流量時,氧化矽薄膜之折射率會增加還是減少?原因為 何?但若是以 TEOS 作為沉積氧化矽之氣體源,為什麼當 TEOS 流量增加時,折射 率幾乎沒有變化?(10 分)