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申論題資訊

試卷:102年 - 102 專利商標審查特種考試_三等_電子工程:半導體製程#44432
科目:半導體製程
年份:102年
排序:0

題組內容

二、

申論題內容

⑶對於 PECVD 製程中,以矽烷作為沉積氧 化矽之氣體源,當增加矽烷流量時,氧化矽薄膜之折射率會增加還是減少?原因為 何?但若是以 TEOS 作為沉積氧化矽之氣體源,為什麼當 TEOS 流量增加時,折射 率幾乎沒有變化?(10 分)