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攝影測量與遙感探測
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102年 - 102 高等考試_二級_測量製圖:攝影測量與遙感探測#44472
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申論題
試卷:102年 - 102 高等考試_二級_測量製圖:攝影測量與遙感探測#44472
科目:攝影測量與遙感探測
年份:102年
排序:0
申論題資訊
試卷:
102年 - 102 高等考試_二級_測量製圖:攝影測量與遙感探測#44472
科目:
攝影測量與遙感探測
年份:
102年
排序:
0
申論題內容
一、攝影測量作業中,影像匹配的目的與類別各如何?(20 分)