最新資料

天文觀測

近代物理

宇宙學

115年 - 115 司法、海岸巡防特種考試_三等_各類科組：法學知識（包括中華民國憲法、法學緒論）#143439(30題)

115年 - 115 司法特種考試_三等_司法事務官財經事務組、檢察事務官財經實務組：稅務法規#143438(7題)

115年 - 115 調查特種考試_三等_調查工作組（選試英文）：外國文（英文）#143437(42題)

115年 - 115 司法特種考試_三等_司法事務官營繕工程事務組、檢察事務官營繕工程組：結構設計（包括鋼筋混凝土設計與鋼結構設計）#143436(7題)

115年 - 115 司法特種考試_三等_檢察事務官財經實務組：審計學#143435(8題)

115年 - 115 司法、海岸巡防特種考試_四等_各類科組：英文#143434(20題)

115年 - 115 司法、海岸巡防特種考試_四等_各類科組：法學知識（包括中華民國憲法、法學緒論）#143433(30題)

115年 - 115 司法、調查特種考試_三等_司法事務官財經事務組、檢察事務官財經實務組、財經實務組：中級會計學#143432(14題)

115年 - 115 調查特種考試_三等_各組別：英文#143431(20題)

115年 - 115 司法特種考試_三等_檢察事務官電子資訊組：程式語言#143430(17題)

50. 下列何者是利用現有的軟體元件，來整合成所需的軟體？ (A)瀑布模式 (B) 增量式開發 (C)元件式開發 (D) 拋集式開發

49. 在傳統的軟體開發過程中，哪個階段的工作重點是定義問題？ (A) 設計 (B) 建置 (C) 分析 (D) 測試

48. 在資料庫的資料交易處理中，如果沒有使用資料同步控制，下列哪一個錯誤不會發生？ (A) 資料加總錯誤 (B)讓取到被刪除的資料 (C) 資料被鎖定 (D) 資料遺失

6. (10分) 請針對 Figure 3 寫出 adjacency multilists 表示法。

(b)請寫出 (A+B)*D+E/(F+A*D)+C 之 postfix 形式。

5. (12分) (a)請寫出如何將 Infix 轉成 Postfix 之規則。

銀行招考必背：金融專業英文500字

講師：最佳姐

簡介：一般來說，除了專業能力之外，英語在金融業是頗受重視的一項基本能力。 然而考生在準備考試時，通常會將較...

【警鴿】2025憲法考點統整(上)

講師：小摩喵(課程：警鴿系列)

簡介：●筆者在三等警察特考【中華民國憲法與警察(消防警察、水上警察)專業英文】取得91分高分，英文手寫21(滿分25...

完勝國考：7000英文單字〈初級篇〉LEVEL 1

講師：最佳姐

簡介：完勝國考：7000英文單字〈初級篇〉LEVEL 1 一、大學入學考試中心公布之7000英文單字 本課程為LEVEL 1 1080...

【110-1 ~ 最新】神經肌肉電刺激原理 考題

課程：【矮袋鼠共筆】物理治療技術學｜電療學 筆記/題庫
章節：第三章 神經肌肉電刺激原理

【110-1 ~ 最新】肌肉/神經肌肉/功能性電刺激 考題

課程：【矮袋鼠共筆】物理治療技術學｜電療學 筆記/題庫
章節：第四章 肌肉/神經肌肉/功能性電刺激

【110-1 ~ 最新】干擾波(IFC) 考題

課程：【矮袋鼠共筆】物理治療技術學｜電療學 筆記/題庫
章節：第五章 干擾波(IFC)

29 依民法之規定，稱典權者，謂支付典價在他人之不動產為使用、收益，於他人不回贖時，取得該不 動產所有權之權。下列關於典權之敘述，何者錯誤？ (A)典權人對於典物因轉典所受之損害，負賠償責任 (B)典權之約定期限超過 15 年時，當事人間得附有到期不贖即作絕賣之條款 (C)典權人為典物支出有益費用，使典物增加價值，不論該增益之價值是否仍然存在，得請求出典人 償還 (D)未定期限之典權，出典人得隨時以原典價回贖典物。但自出典後經過 30 年不回贖者，典權人即取 得典物所有權

9.下列何種抗凝劑最適合用於血球形態的觀察？ (A)EDTA (B)Sodium citrate (C)Heparin (D)Sodium oxalate

29. 以下何者為 Incoterms 2020 所有貿易條件下買方的共同義務？ (A)負擔運輸風險 (B)取得輸入許可證 (C)向賣方發出裝貨通知 (D)依約支付價金 。

30. 下列貿易條件中，何者的風險移轉地點與 FOB 相同？ (A)FAS (B)CIF (C)FCA (D)DDP 。

31. FOB 與 CIF 之差異為何？ (A)風險移轉點不同 (B)品質的決定時點不同 (C)數量的決定時點不同 (D)出口報價的成本構成不同 。

28.下列何者對 SPECT 空間解析度的影響最小？(A)掃描時間 (B)準直儀設計 (C)偵檢器晶體厚度 (D)掃描幾何位置