8. X-射線繞射法最常用來鑑定物質的何種特性？
(A) 官能基種類
(B) 化學鍵長短
(C) 化學鍵能強弱
(D) 晶體結構

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統計： A(7), B(4), C(6), D(73), E(0) #669263