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試題詳解

試卷：114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02：無機微量分析 101-150（2025/10/21 更新）#132506 | 科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

試卷資訊

試卷名稱：114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02：無機微量分析 101-150（2025/10/21 更新）#132506

年份：114年

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

101. X-射線繞射法最常用來鑑定物質的何種特性？
(A)官能基種類
(B)分子質量
(C)化學鍵能強弱
(D)晶體結構 。

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詳解 (共 1 筆)

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題目解析 題目詢問 X-射線繞射法（X...
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