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申論題資訊

試卷:114年 - 114 高等考試_三級_工業工程:工程統計學與品質管制#128785
科目:工程統計學與品質管制概要
年份:114年
排序:0

題組內容

一、一項新光阻塗覆製程被使用於製造積體電路的 125 毫米晶片的生產。 挑 10 片晶片測試,測量的光阻厚度(單位:埃×1000)如下:13.3987、 13.3957、13.3902、13.4015、13.4001、13.3918、13.3965、13.3925、 13.3946 及 13.4002。

申論題內容

(一)請檢定厚度平均為 13.4×1000 Å 的假設。請使用 α=0.05,並說明其雙邊對立假設。