(三)硫酸銅的銅元素和氯化亞銅的銅元素，在 XPS 分析中具有不同的電子束縛能，原因為何？

(二)取樣深度（sampling depth）為表面分析法的重要因子，ATR-FTIR 受到取樣深度的限制，無法對樣品的極表面（奈米等級）進行分析，但 X- 光光電子能譜儀（X-ray photoelectron spectroscopy）可以進行奈米等級的表面分析，請說明此一儀器如何達到奈米等級的表面分析。