申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：106年 - 106 高等考試_三級_工業工程：工程統計學與品質管制#62974
科目：工程統計學與品質管制概要
年份：106年
排序：0

五、探討某半導體的三種氣體配方對晶圓片的表面平整度的影響。令 μ_i表示配方 i 晶圓片的表面平整度之平均數每種氣體配方抽 6 個資料，利用表 1 之資料回答問題：（每小題 10 分，共 20 分）

⑵建立統計檢定（i.e.,也就是虛無 H₀與對立假設 H₁），並做出結論。