106年 - 106 高等考試_三級_工業工程：工程統計學與品質管制#62974

⑴品管圖上每次檢驗就將相關之統計量填入品管圖之 y 軸上。檢驗出第 1 個落在品 管圖上下限外之值所需之總檢驗次數。

⑵一個晶片之厚度。

⑶10 個晶片中不良的晶片數（每個晶片只分兩種：良片與不良片）。

⑷晶片檢驗線上，檢驗出第 2 個不良品所需總檢驗次數。

二、令 X 表示某產品的品質指標，如晶片中心點厚度等。令 n 為每次檢查的樣品數。現在欲建立一個監控「平均數 μ_X, 」的管制圖，依傳統 ARL₀與 ARL₁為評判標準，下列那一個建議比較好？說明理由。（20 分）

 ‧小王建議(a)採用統計量 (n = 3)，(b)管制圖上下限：。

 ‧小李建議(a)採用統計量 (n = 5)，(b)管制圖上下限：。

⑴傳統將此兩張品管圖命名為何？（提示：可能的選擇為(a)p-chart, (b)np-chart, (c)c-chart, (d)u-chart）（10 分）

⑵說明 y 軸的統計量在 2 張圖中用何種機率分配模型來描述較適當？說明理由。 （20 分）

⑴當製程平均值在規格中心時，C_p與 C_pk的關係為何？

⑵當製程平均值不在規格中心時，C_p與 C_pk的關係為何？

⑴完成變異數分析表（填入(a)–(e)值）。

⑵建立統計檢定（i.e.,也就是虛無 H₀與對立假設 H₁），並做出結論。