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申論題資訊

試卷:106年 - 106 高等考試_三級_工業工程:工程統計學與品質管制#62974
科目:工程統計學與品質管制概要
年份:106年
排序:0

申論題內容

二、令 X 表示某產品的品質指標,如晶片中心點厚度等。令 n 為每次檢查的樣品數。現在欲建立一個監控「平均數 μX, 」的管制圖,依傳統 ARL0與 ARL1為評判標準,下列那一個建議比較好?說明理由。(20 分)

 ‧小王建議(a)採用統計量 (n = 3),(b)管制圖上下限:

 ‧小李建議(a)採用統計量 (n = 5),(b)管制圖上下限: