題組內容

五、X-光繞射技術常被用來鑑定材料之結構。使用波長(λ)為 0.154 nm之X光為光源,對 某一試樣進行分析,在角度(θ)為 20o 處可發現繞射峰。

【題組】⑴請問形成此繞射峰( θ = 20o )之平面間之垂直距離(d)為何?