九、能量色散 X 射線光譜儀（EDX）技術是成分分析最常用的技術，請說明所有可能造成誤判訊號峰（peaks）的原因。（10 分）

三、在單晶基板上成長多晶薄膜，此多晶薄膜常有不同程度之優選方位（preferred orientation）或織構（texture）的特性，進而影響材料物理性質。請詳述一個可以分析優選方位或織構的分析技術，包含原理、方法及可得到的資訊。（10 分）