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115年 - 115-2 交通部航港局_船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_三等船副(新)：航海常識#142746(50題)

115年 - 115-2 交通部航港局_船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_三等船長：船長實務#142745(50題)

115年 - 115-2 交通部航港局_次船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_一等大副：航海英文實作評估#142744(24題)

115年 - 115-2 交通部航港局_次船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_二等大副：船舶操作與人員管理#142743(50題)

115年 - 115-2 交通部航港局_次船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_二等大副：貨物作業#142742(50題)

115年 - 115-2 交通部航港局_次船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_二等大副：航行安全與氣象#142741(50題)

115年 - 115-2 交通部航港局_次船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_二等大副：航海與船舶操縱#142740(50題)

115年 - 115-2 交通部航港局_次船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_一等大副：船舶操作與人員管理#142739(50題)

115年 - 2026 教育部對外華語教學能力認證考試試題：華語口語與表達#142737(14題)

115年 - 115-2 交通部航港局_次船員岸上晉升適任性評估筆試測驗_一等大副：貨物作業#142736(50題)

50. 下列何者是利用現有的軟體元件，來整合成所需的軟體？ (A)瀑布模式 (B) 增量式開發 (C)元件式開發 (D) 拋集式開發

49. 在傳統的軟體開發過程中，哪個階段的工作重點是定義問題？ (A) 設計 (B) 建置 (C) 分析 (D) 測試

48. 在資料庫的資料交易處理中，如果沒有使用資料同步控制，下列哪一個錯誤不會發生？ (A) 資料加總錯誤 (B)讓取到被刪除的資料 (C) 資料被鎖定 (D) 資料遺失

6. (10分) 請針對 Figure 3 寫出 adjacency multilists 表示法。

(b)請寫出 (A+B)*D+E/(F+A*D)+C 之 postfix 形式。

5. (12分) (a)請寫出如何將 Infix 轉成 Postfix 之規則。

AI初級-科目1-L11101 AI的定義與分類

講師：ABEL WANG

簡介：iPAS◆AI應用規劃師◆初級課程主要分為科目1:L11人工智慧基礎概論(9個單元)，科目2:生成式 AI應用與規劃(7個...

選修化學ＩＩ 題目演練

講師：Kai

簡介：延續 108 課綱規劃，聚焦於更進一步的核心主題，包括 原子結構與週期表趨勢、化學鍵與分子形狀、化學平衡與...

刑法總則(上)

講師：penguin

簡介：本課程將結合筆者的考試經驗，將以條列式的方式幫您整理每個法條的重點所在，也會利用歷屆試題幫考生快速複...

心理學三大勢力

課程：徐喬-經濟學(資料太多優化中)
章節：Ch4.價格變動與福利分析

視障學生平日相處原則與接觸方法：

課程：徐喬-經濟學(資料太多優化中)
章節：Ch5.勞動供給與跨期理論

因材施教,九年一貫,一個不能少,平等,教育資源分配

課程：徐喬-經濟學(資料太多優化中)
章節：Ch5.勞動供給與跨期理論

29 依民法之規定，稱典權者，謂支付典價在他人之不動產為使用、收益，於他人不回贖時，取得該不 動產所有權之權。下列關於典權之敘述，何者錯誤？ (A)典權人對於典物因轉典所受之損害，負賠償責任 (B)典權之約定期限超過 15 年時，當事人間得附有到期不贖即作絕賣之條款 (C)典權人為典物支出有益費用，使典物增加價值，不論該增益之價值是否仍然存在，得請求出典人 償還 (D)未定期限之典權，出典人得隨時以原典價回贖典物。但自出典後經過 30 年不回贖者，典權人即取 得典物所有權

36. 貨櫃繫栓屬具中伸縮螺絲(Turnbuckles)，又依其使用之目的不同，可分為裂斷強度20噸、36噸 以及45噸等共四種，其中缺那噸級？ (A) 27 (B) 28 (C) 29 (D) 30

23. 依 Incoterms 2020 之規定，下列何種貿易條件的進口通關費用由賣方負擔？ (A)CIP (B)EXW (C)FOB (D)DDP 。

25. 依 Incoterms 2020 之規定，CIP 之風險分界點與下列何者相同？ (A)FOB (B)FCA (C)DDP (D)EXW 。

26. 依 Incoterms 2020 之規定，CIF 賣方風險之轉移分界點為何？ (A)貨物送至裝運港裝載於船舶上為止 (B)貨物送至卸貨港為止 (C)貨物送至買方指定地點 (D)由買賣雙方依實際狀況洽談 。

28.下列何者對 SPECT 空間解析度的影響最小？(A)掃描時間 (B)準直儀設計 (C)偵檢器晶體厚度 (D)掃描幾何位置