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試題詳解

試卷：110年 - 110 四技二專統測_機械群_專業科目(二)：機械製造、機械基礎實習、製圖實習#98510 | 科目：統測◆01機械群◆(二)機械製造、機械基礎實習、製圖實習

試卷資訊

試卷名稱：110年 - 110 四技二專統測_機械群_專業科目(二)：機械製造、機械基礎實習、製圖實習#98510

年份：110年

科目：統測◆01機械群◆(二)機械製造、機械基礎實習、製圖實習

6. 關於工件量測之敘述，下列何者正確？
(A) 光學平板 ( Optical flat ) 乃利用光的干渉原理來進行曲面量測
(B) 裕度又稱容差，正裕度是孔比軸小，負裕度是孔比軸大
(C) 為了降低阿貝誤差，應該盡量減少量具軸線與工件軸線之間的距離
(D) 表面織構的結構輪廓，代表濾去極長波的參數
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