阿摩線上測驗
登入
首頁
>
積體電路技術
>
113年 - 113 高等考試_二級_電子工程:積體電路技術#123067
> 申論題
申論題
試卷:113年 - 113 高等考試_二級_電子工程:積體電路技術#123067
科目:積體電路技術
年份:113年
排序:0
申論題資訊
試卷:
113年 - 113 高等考試_二級_電子工程:積體電路技術#123067
科目:
積體電路技術
年份:
113年
排序:
0
題組內容
五、以 0.25 μm 以下之積體電路製程製造互補式通道金氧半場效應電晶體 (CMOSFET)時,會使用
複晶矽作為 p 通道金氧半場效應電晶體 (PMOSFET)與 n 通道金氧半場效應電晶體(NMOSFET)的閘極(Gate),此時,PMOSFET 可以使用離子佈植(Ion implantation)加入硼原子調整臨界電壓(Threshold voltage),但會使得 PMOSFET 的通道變成埋藏式通道(Buried channel),試回答下列問題:
申論題內容
(二)如何解決改善?(6 分)