(二)掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)和電子微探針 (Electron Microprobe, EMP)對固體研究的多元性是來自於電子束與固 體作用所產生的各種不同訊號,請說明之。 (10 分)

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Annie
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(2) SEM 與 EMP 的訊號來源...
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