申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：108年 - 108 高等三級材料分析#77936
科目：材料分析
年份：108年
排序：0

二、由於材料及應用的發展趨勢均朝向微小化，微結構的觀察在製程開發上顯得相當重要，目前穿透式電子顯微鏡的高解析影像（HRTEM）及掃瞄穿透式電子顯微鏡的高角度環形暗場像（STEM/HAADF）均能得到原子級的解析度，

⑴請說明解析度的定義？（5 分）