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申論題

試卷：110年 - 110 高等考試_三級_材料工程：材料分析#102742
科目：材料分析
年份：110年
排序：0

申論題資訊

試卷：110年 - 110 高等考試_三級_材料工程：材料分析#102742
科目：材料分析
年份：110年
排序：0

申論題內容

三、二次離子質譜儀（SIMS）與拉賽福背向散射分析儀（RBS）是兩個相似 的成分分析技術，同樣以離子為入射源且以離子為接收訊號源，試申論 在碰撞機制、結果呈現、提供分析資訊有何差異性。 （25 分）