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半導體工程
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96年 - 96 高等考試_三級_電子工程:半導體工程#40380
> 申論題
三、Si 於電漿中被蝕刻是根據以下之反應:Si(s) + 2Cl
2
(g) → SiCl
4
(g)。若通入氯氣流量 為 100 sccm,請問理論之 200 mm 直徑之矽晶圓最大蝕刻率為多少? (Si atom weight: 28.09,Density: 2.329 g/cm
3
)(15 分)
相關申論題
一、DRAM 記憶體單元是由一個電晶體與一個電容所組成。若記憶體面積為 1µ m2,且 電容具 4 nm 之 SiO2 介電層,又工作電壓為 2V,請問有多少電子儲存在記憶體單元。 (SiO2 介電常數:3.9)(10 分)
#124098
二、請說明兩種矽晶棒(Ingot)之製作方式,並比較其優缺點。(20 分)
#124099
四、請說明常用之物理性鍍膜有那三類?試比較其優缺點。(15 分)
#124101
六、以 PN 二極體為例,說明其空間電荷形成之原因,並說明於何處其電場強度最大。 (20 分)
#124103
七、試比較傳統反應性離子蝕刻技術(RIE)與高密度電漿蝕刻(ICP)之不同。(10 分)
#124104
五、隨著技術節點持續微縮,曝光技術亦不斷演進。請說明自曝光波長λ=248 nm KrF 以降,至鰭式場效電晶體(FinFET)時代,如何運用各種 不同的曝光技術與圖案化方法來實現更微小的電路圖案。(20 分)
#560352
(二)如何從汲/源極設計的角度來抑制短通道效應?並說明此方法可能導致的副作用。(12 分)
#560351
(一)請說明為何金氧半場效電晶體(MOSFET)的長通道與短通道元件之臨界電壓會有所不同。(8 分)
#560350
(二)請計算 t =0 秒時準費米能階相對於本質費米能階的能量差,並在能帶圖上標示出來。(10 分)
#560349
(一)在 t =0 秒時,多數載子和少數載子的濃度各為多少?(10 分)
#560348
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