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107年 - 107 專技高考_冶金工程技師：材料分析技術#73022

科目：技師◆材料分析技術 | 年份：107年 | 選擇題數：0 | 申論題數：14

試卷資訊

所屬科目：技師◆材料分析技術

選擇題 (0)

申論題 (14)

⑴請說明 X 光源的產生方式。
⑵如何以 X 光作為光源進行材料的組成分析？舉一例並說明其原理。
⑶如何以 X 光作為光源分析材料的化學鍵結？舉一例並說明其原理。
⑴請說明此技術的分析原理。（5 分）
⑵比較粉末樣品與磊晶薄膜樣品的 X 光繞射圖譜有何差異？（10 分）
⑶比較以 X 光和電子束進行繞射分析可能產生那些差異？（10 分）
⑴請問解析度的定義？（5 分）
⑵為什麼電子顯微鏡的解析度比光學顯微鏡高？（5 分）
⑶光和電子束的路徑控制方式有何差別？（10 分）
⑷穿透式電子顯微鏡的解析度是多少？（5 分）
⑸使用電子顯微鏡有何特殊限制？（5 分）
⑴為何衝擊試片多加工成具有凹槽？
⑵說明如何從衝擊破斷面判斷材料韌脆性。
⑶簡單繪出衝擊能量與測試溫度關係。