申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：107年 - 107 專技高考_冶金工程技師：材料分析技術#73022
科目：技師◆材料分析技術
年份：107年
排序：0

二、對一結晶材料，以 X 光進行繞射分析可以得知材料的晶體結構。

⑵比較粉末樣品與磊晶薄膜樣品的 X 光繞射圖譜有何差異？（10 分）