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技檢◆數位電子-甲級
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114年 - 11700 數位電子 甲級 工作項目 03:儀表與檢修測試 51-81(2025/12/12 更新)#134856
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試題詳解
試卷:
114年 - 11700 數位電子 甲級 工作項目 03:儀表與檢修測試 51-81(2025/12/12 更新)#134856 |
科目:
技檢◆數位電子-甲級
試卷資訊
試卷名稱:
114年 - 11700 數位電子 甲級 工作項目 03:儀表與檢修測試 51-81(2025/12/12 更新)#134856
年份:
114年
科目:
技檢◆數位電子-甲級
複選題
63. 有關單接合面場效應電晶體 FET 的測量,下列敘述何者正確?
(A)利用 R×1k 檔,其中一極與其他兩腳呈單向導通時,該腳為 G 極
(B)G、S 極量測導通時,若 G 極為黑棒則 FET 為 P 通道
(C)利用 R×1k 檔,G、S 間均具有二極體特性
(D)利用 R×1k 檔,G、D 間均具有二極體特性 。
正確答案:
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