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試題詳解

試卷:114年 - 11700 數位電子 甲級 工作項目 03:儀表與檢修測試 51-81(2025/12/12 更新)#134856 | 科目:技檢◆數位電子-甲級

試卷資訊

試卷名稱:114年 - 11700 數位電子 甲級 工作項目 03:儀表與檢修測試 51-81(2025/12/12 更新)#134856

年份:114年

科目:技檢◆數位電子-甲級

複選題
63. 有關單接合面場效應電晶體 FET 的測量,下列敘述何者正確?
(A)利用 R×1k 檔,其中一極與其他兩腳呈單向導通時,該腳為 G 極
(B)G、S 極量測導通時,若 G 極為黑棒則 FET 為 P 通道
(C)利用 R×1k 檔,G、S 間均具有二極體特性
(D)利用 R×1k 檔,G、D 間均具有二極體特性 。

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