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技師◆材料分析技術
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97年 - 97 專技高考_冶金工程技師:材料分析技術#37378
> 申論題
題組內容
二、下列是以 Cu Kα(波長為 1.542 Å )所獲得的 X 光粉末繞射峰的角度(θ),已知粉 末含有 FCC 與 BCC 兩種晶體結構,請依序寫出這些繞射峰分別對應的晶面米勒指 標與晶體結構。(25 分)
6. 40.67°
相關申論題
7.41.21°,
#106627
8. 42.89°
#106628
9.49.53°
#106629
10. 58.27°。
#106630
⑴請以圖示與文字說明可用於材料分析與觀察之用的訊號產生區域。(15 分)
#106631
⑵請以圖示與文字說明各訊號的相對解析度(resolution),如:何者最佳、最差。 (10 分)
#106632
四、⑴表面化學分析常會用到縱深分析(depth profile),如何進行縱深分析?縱深分析 有何副作用?縱深分析所得的結果通常與何種時間有關?舉例說明之。(9 分)
#106633
⑵為何表面分析(如 Auger、XPS)通常需要在超高真空(ultra high vacuum)中進 行?(8 分)
#106634
⑶試述聚焦離子束(focused ion beam)的原理及用途。(8 分)
#106635
⑴計算此水準儀之視準軸誤差(仰角為正,俯角為負)。(10 分)
#106636
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