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試題詳解

試卷:113年 - 113-01 初級電路板製程工程師能力鑑定_第二科:電路板製造概論#120087 | 科目:電路板製造概論

試卷資訊

試卷名稱:113年 - 113-01 初級電路板製程工程師能力鑑定_第二科:電路板製造概論#120087

年份:113年

科目:電路板製造概論

46. 下列何者非溫度變化(冷熱衝擊)可能會對電路板造成的可靠度失效現象?
(A)板材結構分層;
(B)熱變形,鍍通孔線路連接狀況;
(C)離子遷移,微短路;
(D)表面鍍層 缺陷,如密著不良、鍍層空隙等
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詳解 (共 1 筆)

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