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申論題資訊

試卷:108年 - 108 高等考試_三級_電子工程:半導體工程#77994
科目:半導體工程
年份:108年
排序:0

申論題內容

四、⑴成長二氧化矽(SiO2)薄膜的方式通常都使用熱氧化法(thermal oxidation),熱氧化法又分乾氧化(dry oxidation)與濕氧化(wet ,請解釋為什麼濕氧化的成長速率大於乾氧化的成長速率? oxidation) (10 分)