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申論題資訊

試卷:104年 - 104 公務升官等考試_簡任_化學工程:高等化學反應工程學研究#41699
科目:化學反應工程學
年份:104年
排序:0

題組內容

二、矽(Si)薄膜在半導體製程中可利用四氯甲矽烷(SiCl4)與氫氣(H2)在平面基板上 以氣相沉積方式鍍膜,設 S 為鍍膜表面活性位置(active site),整體反應機制如下: 

申論題內容

⑵請分別說明矽薄膜之生成速率隨 SiCl4、H2 與 Cl2 分壓之變化關係。(6 分)