申論題

余民寧（民95）指出測驗偏差(Test Bias)亦即試題偏差(Differential Item Functioning)來自測驗編製過程、實施、解釋造成不公平性的測驗。而常見的試題偏差包括：

①測驗編製者僅以多數族群的團體為考慮施測對象，造成編題時偏向以多數族群特有文化、生活經驗、文化特色、風俗習慣為預擬的假想對象，造成不利其他族群的受試結果。

②抽樣過程抽取不具代表性樣本，造成某些不同族群的能力或潛在特質測量不利或不公平，間接使測驗產生偏差的推論和預測結果。

③不同族群對測驗本身即產生不同反應結果的差異現象，因此測驗所產生差異便反應試題本身具有不同的測量功能。