申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：109年 - 109 專技高考_冶金工程技師：材料分析技術#93301
科目：技師◆材料分析技術
年份：109年
排序：0

四、試述聚焦離子束（focused ion beam, FIB）的成像與工作原理，並敘述 FIB 與掃描式電子顯微鏡（scanning electron microscopy, SEM）在功能與應用上的相似與差異性。（10 分）