四、試述聚焦離子束(focused ion beam, FIB)的成像與工作原理,並敘述 FIB 與掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscopy, SEM)在功能與應用上的相似與差異性。(10 分)
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YYYYu
詳解 #5048335
FIB原理:將低熔點Ga作為離子源,離子...
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